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集成式太赫兹时域光谱仪 TA-TDS-INT

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产品简介

集成式太赫兹时域光谱仪 TA-TDS-INT,一机多用,透射、反射、ATR模式可灵活切换,随换随用,操作方式优于同行同类产品,集成边缘计算算力,支持AI软件开发,适用于高校、研究所等科研领域对太赫兹光谱应用分析研究。
集成式太赫兹时域光谱仪 TA-TDS-INT;太赫兹光谱学时域光谱集成式设计频域光学检测器太赫兹波段信号处理光谱信息透射、反射、衰减全反射(ATR)成像成谱测量指纹谱成像谱线扫描三维层析成像费飞行时间3D扫描。

产品特点

  • 图、谱一体同时检测
  • 高分辨率可获得更精细的光谱
  • 高检测速度可实现快速采集
  • 插拔式安装,支持盲插,无需光路调教,安装时间≤5秒
  • 创新的ATR模式:少量粉末、液体在ATR表面即可测试
  • 配备专业分析软件包,支持物质检测分析及多种成像方法分析
  • 提供100TOPS的AI边缘计算算力、Python SDK,支持AI软件二次开发
  • 支持3D成像,最大扫描范围20*20mm,分辨率1.5μm

功能/性能参数

  • 咨询专线

    021-55805206、18621283209
    (太赫兹工业成像事业部)
    021-58005209、18918363971
    (太赫兹光谱检测事业部)
    18942579575
    (太赫兹光电感知事业部)

  • 传真

    021-55805201

  • 地址

    上海市杨浦区国权北路1688弄A7座5楼

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