样品支架用于放置待测样品，探头架设于位移台，位移台由2组位移机构构成，电机控制器分别控制2组位移台移动至设定位置，实现样品扫描，其中X、Y轴位移台用于样品扫描，Z轴位移台用于探头调焦，以实现不同厚度样品测量，位移台可实现太赫兹系统对样品透（反）射成谱、成像。
长行程三维扫描位移台TA-SL1，三维层析成像费飞行时间3D扫描位移台透射反射无损检测长行程高精度